镀层厚度量测显微镜/层厚测量显微系统

日期：2025-05-03 23:33

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摘要：层厚测量显微系统欧米特层厚测量显微系统的发展基于**的光学和图像技术，使用高分辨率CCD和CMOS摄像机，将显微镜的光学图像转换到计算机中，与欧米特专用的测量软件系统进行图像测量，能够提供舒适的操作和灵活的解决方案。

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