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微分干涉(DIC)观察法
日期:2024-04-27 10:11
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摘要:
微分干涉(DIC)观察法
DIC 是一种显微观察技术,可以将明视场观察法中无法检测到的高度差异,用增强的对比度以浮雕或三维图像的形式表现出来。该项基于偏振光的技术,拥有三个专门设计的棱镜可供选择以满足用户的需求。该观察法适用于检测高度差异极其微小的样本,包括金相组织、矿物、磁头研磨面和硬盘表面及晶圆研磨面。