如何使用金相显微镜观察导电粒子

日期：2024-05-06 05:15

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摘要：

如何使用金相显微镜观察导电粒子
使用金相显微镜OMT-4R系列配合起偏，检偏及DIC微分干涉，可以很好的观察屏的导电粒子，确认导电粒子个数是否符合要求。
　　
　　首先，需要观察导电粒子必须要有配有DIC及起偏检偏器的金相显微镜。对于观察导电粒子来说一般选用的镜头是要求为不超过20倍为好，超过后会由于景深的问题导致观察效果模糊，无法观察到好的效果。
　　

　　准备好金相显微镜及必要的屏后就可以开始观察导电粒子了。首先把DIC及起偏检偏拉出，然后把屏放置在载物台上，调整好焦距，通过载物台移动后找到观察位置。现在插入起偏及检偏器，通过目镜观察屏上位置，再调节检偏器，直到光线黑时停止调节检偏器。后插入DIC,调节DIC进行偏光直到看到导电粒子清晰时就可以停止了。

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